2.測(cè)試探頭應(yīng)預(yù)防在和被測(cè)帶電物體表面垂直的某一股東的空間位置上（按儀器說(shuō)明說(shuō)指明的測(cè)試距離），測(cè)試距離變動(dòng)要引出很大測(cè)試誤差。為了幸免被測(cè)帶電體和探頭外殼之間發(fā)生火花放電，開(kāi)始測(cè)量時(shí)，探頭必須先放置較遠(yuǎn)（離帶電體）的位置上，逐漸接近帶電體。

3.測(cè)試表面電位時(shí)，一般帶電體表面應(yīng)離接地體足夠遠(yuǎn)。如帶電體是薄片或薄膜狀，且背面又靠近接地體，當(dāng)探頭移向接地體附近時(shí)，由于局部電荷的感應(yīng)集中，有產(chǎn)生空間放電或表面放電的危險(xiǎn)。

4.當(dāng)帶電體的被測(cè)部位是較大的平板時(shí)，其測(cè)量值是較精確的，但當(dāng)帶電體被測(cè)表面具有肯定的曲率半徑時(shí)，測(cè)量值就和實(shí)際的電位值有較大差別了。

5.應(yīng)當(dāng)考慮儀器自身特性對(duì)測(cè)試精度的影響，使用前應(yīng)定期進(jìn)行校準(zhǔn)和標(biāo)定。

6.探頭屏蔽深度對(duì)測(cè)試精確度有肯定的影響，感應(yīng)式靜電場(chǎng)測(cè)試儀實(shí)質(zhì)上是對(duì)被測(cè)帶電體某一局部電場(chǎng)的測(cè)試，因而必須完量減小外電場(chǎng)對(duì)測(cè)試信號(hào)的干擾和影響。通常的方法是把該類(lèi)儀表及其探頭安裝在接地屏蔽的殼體內(nèi)，顯然探頭外屏蔽套筒過(guò)深會(huì)降低儀器的測(cè)試精確度，過(guò)淺簡(jiǎn)單受到外界電場(chǎng)影響。

7.通過(guò)測(cè)試物體表面電位時(shí)所得值，可作為定性參考，精確測(cè)量因各種因素影響，在實(shí)際工作中很難達(dá)到。

8.通常電子工業(yè)用的靜電電壓表要考慮測(cè)試精度，應(yīng)能測(cè)試到±10v的靜電電壓。